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?美國Sonix聲學(xué)掃描顯微鏡 ECHO LS 應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)，半導(dǎo)體晶元，電子原器件內(nèi)部如裂紋、分層、空洞的缺陷無損檢測(cè)。無論是失效分析實(shí)驗(yàn)室的詳細(xì)分析還是生產(chǎn)線檢測(cè)， Sonix 都能提供 一個(gè)易于操作的軟件解決方案。
美國Sonix超聲波掃描顯微鏡ECHO LS 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體以及集成電路的制造和封裝測(cè)試行業(yè)，無損檢測(cè)電子元器件、LED、金屬基板的分層、裂紋等缺陷（裂紋、分層、空洞等）；通過圖像對(duì)比度判別材料內(nèi)部聲阻抗差異、確定缺陷形狀和尺寸、確定缺陷方位。
中科科儀鎢燈絲掃描電子顯微鏡EM69系列，在成像和分析方面表現(xiàn)出較高的分辨率，可幫助您在材料科學(xué)、生命科學(xué)或工業(yè)領(lǐng)域等進(jìn)行科學(xué)研究及失效分析。
中科科儀場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡EM8010/8020/8100 在納米材料、生物醫(yī)學(xué)、電子元器件等領(lǐng)域的應(yīng)用廣泛，可以觀察到樣品表面的微觀結(jié)構(gòu)和形貌，對(duì)樣品的成分、形貌、微觀結(jié)構(gòu)等進(jìn)行分析。
中科科儀掃描電鏡KYKY-EM8100 / EM8000 使用肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍，采用電子束加速鏡筒，確保低壓下較好的成像功能，超高分辨率，適合研究所，高校等更多高分辨率觀測(cè)需求。
中科科儀掃描電鏡 電子掃描電鏡 放大倍率高達(dá)2-3000000倍，適用于電池材料、半導(dǎo)體、復(fù)合材料等多個(gè)領(lǐng)域的研究。
全自動(dòng)鎢燈絲掃描電子顯微鏡KYKY-EM6900，應(yīng)用領(lǐng)域： 電池材料、半導(dǎo)體、復(fù)合材料、高分子、動(dòng)植物、微生物、粉末冶金、礦物、金屬行業(yè)、建筑材料、化工材料、陶瓷材料
善時(shí)掃描電子顯微鏡 SS-60系列產(chǎn)品作為基礎(chǔ)款臺(tái)式掃描電鏡，能滿足大部分用戶的基本實(shí)驗(yàn)需求，配置 SE 二次電子探測(cè)器與 BSE 背散射電子探測(cè)器，載物平臺(tái)可配置三軸（X,Y,R）手動(dòng)平臺(tái)，也可升級(jí)為五軸（X,Y,R,Z,T）自動(dòng)平臺(tái)，全系列產(chǎn)品均可配置 EDS 能譜分析儀。
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