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奧林巴斯超聲波測(cè)厚探傷探頭,用于缺陷檢測(cè)、厚度測(cè)量、材料研究和醫(yī)療診斷。奧林巴斯提供4000多種探頭類型,其中包括:接觸式、雙晶、橫波、延遲塊和水浸式。
奧林巴斯測(cè)厚儀雙晶腐蝕探頭D799,適用于 27MG 及 45MG系列 和 38DL測(cè)厚儀,以及其他商用測(cè)厚儀,探傷儀,超聲波儀器。
奧林巴斯帶延遲塊測(cè)厚儀探頭,V201-RM 至V208-RM 精確測(cè)厚,較高的探頭頻率提高了分辨率。直接接觸法可提高測(cè)量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力。
奧林巴斯可更換延遲塊測(cè)厚探頭V260-SM V260-RM V260-45,較高的探頭頻率提高了分辨率。
奧林巴斯帶有手柄組合件測(cè)厚延遲塊探頭,這些探頭用于伸到空間極其狹小的區(qū)域進(jìn)行探測(cè),如:相距很近的渦輪葉片。探頭可旋轉(zhuǎn)的頭部提高了其在狹小區(qū)域接觸被測(cè)工件的能力。
奧林巴斯探傷高溫厚度檢測(cè)探頭 原美國(guó)泛美,探頭的舒適套筒的設(shè)計(jì)目的是便于操作者在帶手 套時(shí)抓取和握持探頭。
德國(guó)KK公司超聲波測(cè)厚儀DM4 標(biāo)準(zhǔn) 超厚探頭 標(biāo)準(zhǔn)探頭DA301 超厚探頭DA303 超薄探頭DA312 DA312B16
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