美國Dakota NDT多功能超聲波測厚儀CMX2-DL/CMX3-DL

美國DAKOTA公司CMX系列多功能超聲波測厚儀，替代CMXDL+標(biāo)準(zhǔn)版和彩屏版。可測量材料的厚度和穿透涂層測量材料厚度，也可以測量涂層的厚度。可配雙晶探頭和單晶探頭。

美國DAKOTA公司CMX2-DL/CMX3-DL多功能超聲波測厚儀，帶A/B掃描功能，可測量材料的厚度，穿透涂層測量材料厚度，也可以測量涂層的厚度。用戶可根據(jù)需求選擇不同的功能配置，以獲得更好的性價比。

特點
100MHz FPGA時序電路設(shè)計
可選彩色和灰度顯示屏
A/B掃描
手動調(diào)節(jié)增益和自動增益控制 (AGC)，范圍：110dB
自動時間相關(guān)增益(TDG)
多種測量模式
脈沖-回波(P-E)模式：測量材料厚度
脈沖-回波涂層(PECT)模式：同時測量材料和涂層厚度
脈沖-回波溫度補償(PETP)模式：測量材料厚度
回波-回波(E-E)模式：穿過涂層測量材料厚度
回波-回波驗證(E-EV)模式： 穿過涂層測量材料厚度
測量涂層(CT)模式：只測量涂層厚度
可接雙晶探頭和單晶探頭(包括延遲塊探頭、接觸式探頭、筆形探頭)
USB Type-C數(shù)據(jù)接口
內(nèi)置4GB SD存儲卡

美國Dakota NDT多功能超聲波測厚儀CMX2-DL/CMX3-DL技術(shù)參數(shù)

測量
脈沖-回波(P-E)模式測量范圍：0.63mm～30.48m(鋼)
脈沖-回波涂層(PECT)模式測量范圍：0.63mm～30.48m(鋼)，0.0254~2.54mm(涂層)
脈沖-回波溫度補償(PETP)模式 測量范圍：0.63mm～30.48m(鋼)
回波-回波(E-E)模式測量范圍：2.54～152.4mm(鋼，穿過涂層測量，隨涂層厚度的不同，測量范圍也會變化)
回波-回波驗證(E-EV)模式測量范圍：2.54～102mm(鋼，穿過涂層測量，隨涂層厚度的不同，測量范圍也會變化)
測量涂層(CT)模式測量范圍：0.0127~2.54mm(涂層)
分辨率：0.01mm
聲速范圍：309.88～18542m/s
單位：公制或英制
校準(zhǔn)：一點和兩點校準(zhǔn)方式

顯示
CMX2-DL顯示屏：1/8英寸VGA灰色顯示，240x160象素?？梢晠^(qū)62x45.7mm，EL背光；
CMX3-DL顯示屏：1/4英寸AMOLED彩色顯示屏，320x240象素
A-掃描方式：檢波+/-(缺陷視場)，RF(全波視場)。刷新頻率25Hz/60Hz(彩色顯示屏)?？v向和橫向視圖(彩色顯示屏)
B-掃描方式：基于時間的橫截面視圖。 顯示速度為每秒10到200個讀數(shù)
大數(shù)字方式：標(biāo)準(zhǔn)厚度顯示，數(shù)字高度17.78mm(CMX2-DL)/14.35mm(CMX3-DL)
厚度條形掃描：速度33Hz，在B-掃描和大數(shù)字顯示中可見
穩(wěn)定度指示：表示測量值的穩(wěn)定性
功能狀態(tài)指示：顯示當(dāng)前激活的功能

超聲波參數(shù)
測量模式：P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT
脈沖：可調(diào)方波脈沖發(fā)生器
接收：根據(jù)選擇模式在110dB范圍內(nèi)采用手動或AGC增益控制，阻抗50~1500Ω可調(diào)
計時：單次8位100MHz超低功耗數(shù)字化儀的精確TCXO計時
脈沖重復(fù)頻率：250Hz

探頭
頻率范圍：1~20MHz
雙晶探頭和單晶探頭(延遲塊、接觸式、筆式)
LEMO接口，1.2米探頭線

存儲
容量：內(nèi)置4GB SD卡
數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)：網(wǎng)格(字母數(shù)字)和順序(自動識別)
截屏功能：位圖圖形捕獲，用于快速記錄
數(shù)據(jù)輸出：通過USB Type-C連接的計算機

功能
設(shè)置：64個用戶定義設(shè)置，用戶也可編輯出廠設(shè)置
探頭類型可選：內(nèi)置雙路誤差校正，提高線性度
報警模式：上下限視聽報警
快速掃描模式：每秒250個讀數(shù)，當(dāng)探頭離開時顯示最小值

其他
鍵盤：12個觸摸鍵
電源：標(biāo)配為三節(jié)5號堿性電池 ，可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態(tài)指示。無操作五分鐘后自動關(guān)機。USB Type-C供電
外殼：擠壓鋁機殼，底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝
工作溫度：-10～60℃
尺寸重量：63.5x165x31.5mm，含電池385g
包裝：ABS工程塑料箱
出廠證書：工廠校準(zhǔn)可追溯到NIST和MILSTD-45662A標(biāo)準(zhǔn)

雙晶探頭參數(shù)

注：測試高溫表面時需用高溫耦合劑

單晶探頭參數(shù)